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TrackProbe跟踪式光笔测量系统

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TrackProbe跟踪式光笔测量系统

TrackProbe跟踪式光笔测量系统,由手持测量光笔i-Probe和新一代光学跟踪器i-Tracker组成,专为计量级精度测量量身打造。整个系统凭借其高精度、高便携性和高易用性的特点,能轻松应对大范围、远距离及复杂严苛环境的测量需求。

面对生产车间现场,从夹具调装到基准划线测量、从小型零部件到大型工件如工程机械结构件尺寸检测,TrackProbe跟踪式光笔测量系统都能随时随地、无所拘束地开展高精度三维测量。

广泛可扩展的测量范围

搭配具有超远可视范围的跟踪器i-Tracker,i-Probe测量光笔标准工作距离为6m,

单站最远测量距离可至10m,实现大型项目一站式高精度三维测量。


性能强大精密计量

凭借高精度的光学传感器技术和算法性能,能够精确地探测和测量被测对象的几何特征及形位公差。

测量范围在28.6m3范围内,体积精度可达0.067mm;10.4m3范围内,体积精度可达0.049mm。


深度隐藏点测量

i-Probe长50omm(不含测针长度),结合先进的算法技术,即便遮挡部分靶点也能精准探测,

轻松获取基准孔、隐藏点等关键部位的三维数据,大大拓展测量区域,测量更灵活,

尤其适合汽车零件、航空部件等复杂内部结构、管道、孔洞以及异形工件等的测量。



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