NimProbe
NimProbe
NiImProbe跟踪式光笔测量系统，由手持测量光笔.Probe和新一代光学跟踪器:-Tracker组成，采用全无线轻量化设计，专为中大型工件的高精度测量打造。系统创新融合了探测与扫描两种模式，覆盖从来具调装、基准划线测量、以及高精度零部件的尺寸检测等多种应用场景，致力于为工业检测、智能制造等领域提供灵活便捷、精准高效的三维测量解决方案。
高精度探测
NimProbe可对孔、边缘、凹槽等几何特征进行高精度探测，即便面对复杂零件也能确保测量结果精准可靠。
大面幅三维扫描
跟踪需同时可化身为手持3D扫摘仪，快速获取高精度点云数据。结合DefinSight软件，扫摘与探测数据实时融合，简化检测流程，让测量更智能、更高效。
广域拓展精密测量
搭配超远可视距离的跟踪器i-Tracker，NimProbe可实现单站最远4.2m的标准测量。
依托高精度光学传感器技术和先进算法，系统能精确探测工件的几何特征及形位公差，
为各类测量任务提供一站式高精度三维测量解决方案。
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NimbleTrack Gen2
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SCAN 1
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